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ZONA HORARIA CIUDAD DE MÉXICO (GMT-06:00)
Retos en subestaciones digitales y ciberseguridad
08:00 - 08:10 Bienvenida
ESPAÑOL Diego Gasca – OMICRON
08:10 - 08:50 Challenges in Testing in Digital Substations
INGLÉS Fred Steinhauser – OMICRON
08:50 - 09:30 Threats and Vulnerabilities in the Substation Environment
INGLÉS Andreas Klien – OMICRON
09:30 - 10:00 Primer piloto de SE digital en Chile – Experiencias y oportunidades
ESPAÑOL Nelson Nelis Reyes – TRANSELEC
10:00 - 10:30 La experiencia de GE con las soluciones DANEO e RelaySimTest en las pruebas de Full Digital Substations
ESPAÑOL Luiza Pio y Rodrigo Weishaupt – GE
10:30 - 11:00 Demostración de productos OMICRON
ESPAÑOL StationScout
João Jorge – OMICRON
11:00 - 12:30 Pausa del evento para almuerzo
Eficiencia y confiabilidad en las pruebas de protecciones
12:30 - 12:40 Bienvenida
ESPAÑOL João Jorge – OMICRON
12:40 - 13:20 Findings using system based testing
INGLÉS Christopher Pritchard – OMICRON
13:20 - 14:00 Incrementando la eficiencia en las pruebas de protecciones
ESPAÑOL Diego Gasca – OMICRON
14:00 - 14:30 Pruebas en el Sistema de Bombeo de Petróleo usando modelamiento del Sistema Eléctrico e IEC 61850
ESPAÑOL Gaston Diaz – CING
14:30 - 15:00 Prueba de relé de cantidades incrementales y ondas viajeras con señales superpuestos
ESPAÑOL Andrei Coelho – SEL
15:00 - 15:30 Demostración de productos OMICRON
ESPAÑOL RelaySimTest
João Jorge – OMICRON
ZONA HORARIA CIUDAD DE MÉXICO (GMT-06:00)
Descargas Parciales
08:00 - 08:10 Bienvenida
ESPAÑOL Emmanuel Romero – OMICRON
08:10 - 08:30 History of MPD Technology
INGLÉS Caspar Steineke – OMICRON
08:30 - 08:50 MPD 800 – Una solución universal para la medición de DP
ESPAÑOL Emmanuel Romero – OMICRON
08:50 - 09:20 Experiencias en mediciones en campo de DPs en cables de potencia
ESPAÑOL Vicente Rodolfo García-Colón – INEEL
09:20 - 09:50 Monitoreo de la condición en Activos Eléctricos de AT – Beneficios del monitoreo de DP
ESPAÑOL Andy Hedgecock – OMICRON
09:50 - 10:15 Tecnología ECM – Equipment Condition Monitoring para Mantenimiento Predictivo
ESPAÑOL Gilberto Amorim Moura – TREETECH
10:15 - 10:40 The advantages of VLF cable testing, TD & PD diagnostics
INGLÉS Jürgen Jakober – B2
10:40 - 11:00 Demostración de productos OMICRON
ESPAÑOL MONTESTO 200
Emmanuel Romero – OMICRON
11:00 - 12:30 Pausa del evento para almuerzo
Experiencias en el diagnóstico de Activos de Subestaciones
12:30 - 12:40 Bienvenida
ESPAÑOL Alex Farias – OMICRON
12:40 - 13:10 Diagnóstico de bornas de alta voltaje - Estudio de caso
ESPAÑOL Carlos Guilherme – ISA CTEEP
13:10 - 13:40 Análisis de falla en Transformador de Potencia por Compensación de Bushings
ESPAÑOL Juan José Rosito – Plus Energy
14:10 - 14:40 Medidas de parámetros de línea de transmisión de 110kV
ESPAÑOL Hector Felipe E. Gomez – IEB
14:40 - 15:00 Preguntas a los presentadores
ESPAÑOL
15:00 - 15:30 Demostración de productos OMICRON
ESPAÑOL TESTRANO 600
Alex Farias – OMICRON
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