Temos o prazer de convidá-lo para participar do III OMICRON User Meeting in Brazil, que acontecerá entre os dias 5 e 8 de julho de 2022 no Resort Costão do Santinho, na cidade de Florianópolis, Santa Catarina.
Durante os quatro dias deste evento presencial, contaremos com uma combinação de apresentações técnicas de nossos especialistas nacionais e internacionais e clientes, onde serão debatidos os últimos avanços e tecnologia do setor. Além disso, nesta edição, teremos um dia dedicado a mini-cursos e outro para realizar visitas técnicas.
O evento contará também com três dias de exposição de produtos e soluções, simultânea à conferência. Algumas participações já confirmadas, além da OMICRON, são b2, SEL, SIEMENS e Treetech. Outros fabricantes estão em fase final de negociação para confirmar participação e deverão ser anunciados em breve.
Confira a agenda completa abaixo!
Se deseja participar como palestrante, veja também abaixo mais informações na seção "call for papers".
Registro
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Resort Costão do Santinho
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CALL FOR PAPERS
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Envie seu trabalho!
Se você gostaria de participar como palestrante do evento, por favor nos envie seu trabalho (paper), o qual para ser aceito, deve focar em desafios, aplicações, ideias e soluções relacionadas com os temas que encontrará no seguinte botão:
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AGENDA COMPLETA
5 de julho | Conferência
08:30 - 09:00 Welcome
09:00 - 09:45 Tendências da Indústria 4.0 e impactos no monitoramento e gestão dos ativos industriais Mateus Nicoladelli, WEG
09:45 - 10:30 The new intelligent power networks — trends and solutions Erik Sperling
10:30 - 11:15 Coffee Break e Visita à Exposição
11:15 - 11:55 Benefits of assets monitoring (MONGEMO, MONCABLO, MONTRANO) Andy Hedgecock, OMICRON
11:55 - 12:15 Análisis de falla en transformador con detección de descargas parciales Marcelo H. Torrico, ENDE Transmisión
12:15 - 12:35 Conservação da isolação de estatores bobinados — Mecanismo de trilhamento superficial Fernando Spezia, WEG
12:35 - 14:30 Almoço e Visita à Exposição
14:30 - 15:00 Offline Tests vs. Monitoring Andy Hedgecock, OMICRON
15:00 - 15:20 Investigação e Mitigação Deformação nas bobidas de H1 e H3 verificados do resultado de SFRA Wesley Martins, MR
15:20 - 15:40 Ensaios elétricos em Máquinas Rotativas de Alta Tensão utilizando tecnologia VLF Leonardo B. Giacchetta, EngPositivo
15:40 - 16:25 Coffee Break e Visita à Exposição
16:25 - 16:45 Aplicação de IEDs em Arquitetura IoT para monitoramento online da condição de transformadores Gilberto Moura, Treetech
16:45 - 17:05 Apresentação OMICRON Erik Sperling
17:05 - 17:30 Mesa Redonda — Tópico: Futuro de Testes e Monitoramento de Ativos Apresentadores, OMICRON e participantes
17:30 - 19:30 Coquetel de boas-vindas
6 de julho | Mini-cursos
08:30 - 12:00 Sala 1| Segurança Cibernética Aplicada à Subestações João Jorge
Sala 2 | Teste de Tensão Aplicada VLF e PD em cabos isolados de média tensão Mariana Felix
Sala 3 | Testes sistêmicos de relés TW, um novo conceito Pedro Brito
Sala 4 | Conceitos e testes de Transformadores de Instrumentos Vinicius Bardini e Felix Feustel
12:00 - 14:00 Almoço e Visita à Exposição
14:00 - 17:30 Sala 1 | Monitoramento e testes baseados em Protocolos de Comunicação
João Jorge
Sala 2 | Análise de Descargas Parciais em dispositivos elétricos Guilherme Penariol
Sala 3 | Testes automatizados de IEDs usando o OCC Pedro Brito
Sala 4 | Testes e avaliação de Disjuntores de Média e Alta Tensão Vinicius Bardini
Sala 5 | Testes Automatizados em Transformadores de Potência João Pereira
17:30 - 19:00 Happy Hour
19:00 - 21:00 Jantar Especial
7 de julho | Conferência
08:30 - 08:50 Welcome
08:50 - 09:20 Adequação do Submódulo 2.11 para as subestações digitais ONS
09:20 - 10:10 Road to Digitalization (ENU) Fred Steinhauser
10:10 - 10:55 Coffee Break e Visita à Exposição
10:55 - 11:45 Full Digital Substations Testing - Recommendations and Trends(ENU) Fred Steinhauser
11:45 - 12:05 Compartilhando experiências durante a digitalização da Subestação Jaguariúna da CTEEP
baseada na IEC 61850 no contexto da Indústria 4.0 Marcos H. Sylvestre, MCPAR Engenharia
12:05 - 12:25 Cyber Vulnerability Analysis of the Goose Protocol of the IEC 61850 Standard Adrián Alarcón, Acciona
12:25 - 14:35 Almoço e Visita à Exposição
14:35 - 14:55 Experiência SEL em soluções com 61850 Process Bus Eduardo Golçalves, SEL
14:55 - 15:15 Experiência inovadora de testes de proteção de barras usando Process Bus com
publicação de corrente simultânea em todo o sistema Alex H. Takeda, ISA CTEEP
15:15 - 15:35 Segurança Cibernética com StationGuard João Jorge
